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다목적 X-선 회절분석기
Multi-Purpose X-Ray Diffractometer

영문약어 XRD
장비명(한글) 다목적 X-선 회절분석기 
기기코드 SU05
연구장비표준분류
기기상태  
다목적 X-선 회절분석기

부서 및 장비담당자

부서 및 장비담당자
지역 서울센터 
주소 (02841)
서울특별시 성북구 안암로 145 
보유센터 및 부서 서울센터 
장비담당자 정슬기 ,윤혜온 ,김도영
전화 02-6943-4194,02-6943-4192,02-6943-4127 
팩스  
메일 sjeong85@kbsi.re.kr  

장비 공지사항


Spec 및 활용분야

원리 및 특징
    X-선 회절 분석은 미지의 시료속에 있는 결정상들의 정성 및 정량분석을 위하여 사용되는 장비이다. X-선관(X-Ray Tube)으로부터 발생된 특성 X-선을 시료에 조사하면 시료내의 결정상은 Bragg 법칙에 따라 고유한 각도에서 회절된다.
    이때 X-선이 검출되는 각도와 세기는 해당 결정상을 특정짓는 고유한 것으로 이 측정 자료로부터 미지의 결정상을 확인할 수 있다.
구성 및 성능
    ○ X-ray generator: 3kW Cu anode
    ○ Graded multi-layer mirror: primary and secondary optics
    ○ Poly-capillary lens: slit size 0-10 mm
    ○ Mono-capillary collimator: beam size 0.5 mm
    ○ Parallel plate collimator: equatorial acceptance 0.27°
    ○ Curved graphite monochromator
    ○ 2-bounce hybrid monochromator
    ○ Zero background sample holder
    ○ High-temperature chamber: R.T.-1600°C under air/inert gas/vacuum, Pt heating filament type
    ○ Open Eulerian cradle: 2θ, omega, psi, phi
    ○ Sample spinner: 1/16-2 rps
    ○ Reflection/Transmission interfaces
활용분야
    ○ 물리, 화학, 재료, 반도체, 지구과학 분야 소재의 구조 특성 연구
    ○ 분말, 박막 및 다양한 고체 형상 시료 분석
    ○ 분말 시료에 대한 정성/정량 분석 및 Rietveld refinement
    ○ 결정립 크기 측정
    ○ 온도가변 실험: 상온-1600°C, 진공 및 분위기
    ○ Capillary 및 Zero background holder를 이용한 미량 시료 분석
    ○ 반도체 및 산화물 박막에 대한 In-plane 측정 (GID)
    ○ X-선 반사를 이용한 박막의 두께, 거칠기 및 밀도 측정
    ○ Psi 및 omega 가변 측정을 통한 잔류응력 분석

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