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장비 상세조회

부분구경 스티칭 비구면 측정기
sub-aperture stitching aspheric surface measuring machine

분석장비 상세내역
영문약어 ASI
장비명(한글) 부분구경 스티칭 비구면 측정기 
기기코드 DJ102
연구장비표준분류
기기상태 양호 
DJ102.jpg

부서 및 장비담당자

부서 및 장비담당자
지역 대덕본원 
주소 (34133)
대전광역시 유성구 과학로 169-148 
보유센터 및 부서 대덕본원 연구장비개발부 
장비담당자 현상원  김건희  신건휘  전민우  최환진  
전화 042-865-3494, 042-865-3466, 042-865-3465, 042-865-3467, 042-865-3460 
팩스 042-865-3469 
메일 hyunsangwon@kbsi.re.kr  

Spec 및 활용분야

Spec 및 활용분야
원리 및 특징
    ○ 본 측정기는 부분구경 스티칭 측정방식으로 비구면을 측정하는 초정밀 비구면 광학측정기로서, 11축의 자동화된 모션제어를 통해 비구면 측정범위를 극대화할 수 있으며, Best-fit sphere 기준으로 최대 1000 waves(0.6 mm), vertex sphere 기준으로 최대 4000 waves (2.5 mm)의 비구면도를 갖는 광학면을 측정할 수 있는 세계 유일의 장비임
구성 및 성능
    (1) Measurement capability specifications
    - Materials: Optical glasses, crystals, metals, ceramics, plastics
    - Surface Finishes: Specular
    - Part Reflectivity: 1% - 100% (attenuation filter required)
    - Part Geometries: Plano, spherical, aspheric, Concave or convex up to full hemisphere (depending on transmission sphere availability)
    - Part Diameter: Up to 300 mm (depending on part geometry)
    - Part Weight: ≤ 7.25 kg (including part holder)
    - Asphere Geometries: Rotationally symmetric, concave or convex (A part with an inflection point can be measured in a restricted area depending on the part geometry)
    - Max Aspheric Departure from best-fit sphere : ≤ 1000 waves (0.6 mm) with VON(Variable Optical Null device)
    - Max Aspheric Departure from vertex(base) sphere : ≤ 4000 waves (2.5 mm) with VON(Variable Optical Null device)
활용분야
    ○ 초정밀 광학면 측정
    - 평면 광학제품 형상오차 측정
    - 구면 광학제품 형상오차 측정
    - 비구면 광학제품 형상오차 측정
    - 광학소자 표면거칠기 측정

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